Nhiệt kế hồng ngoại phải được chọn chính xác.
Công nghệ đo nhiệt độ hồng ngoại đóng một vai trò quan trọng trong việc kiểm soát và giám sát chất lượng sản phẩm của nước tôi, chẩn đoán lỗi trực tuyến của thiết bị, bảo vệ và tiết kiệm năng lượng. Trong hai thập kỷ qua, nhiệt kế hồng ngoại không tiếp xúc đã phát triển nhanh chóng về mặt công nghệ, hiệu suất của chúng không ngừng được cải thiện, phạm vi ứng dụng không ngừng được mở rộng và thị phần của chúng tăng lên hàng năm. So với các phương pháp đo nhiệt độ tiếp xúc, đo nhiệt độ hồng ngoại có ưu điểm là thời gian phản hồi nhanh, không tiếp xúc, sử dụng lâu dài và tuổi thọ cao. Máy đo tiếng ồn kỹ thuật số cũng đóng vai trò đo mức âm thanh.
Nguyên lý làm việc của nhiệt kế dòng ngoài:
Việc hiểu rõ nguyên lý làm việc, các chỉ tiêu kỹ thuật, điều kiện môi trường làm việc, vận hành và bảo trì nhiệt kế ngoài nhằm giúp người dùng lựa chọn và sử dụng chính xác nhiệt kế hồng ngoại.
Tất cả các vật thể có nhiệt độ trên 0 đều liên tục phát ra năng lượng bức xạ hồng ngoại vào không gian xung quanh. Các đặc tính bức xạ hồng ngoại của một vật thể – kích thước của năng lượng bức xạ và sự phân bố của nó theo bước sóng – có liên quan chặt chẽ đến nhiệt độ bề mặt của nó. Do đó, bằng cách đo năng lượng hồng ngoại do chính vật thể tỏa ra, nhiệt độ bề mặt của nó có thể được đo chính xác. Đây là cơ sở khách quan để đo nhiệt độ bức xạ hồng ngoại.
Định luật bức xạ vật đen của nhiệt kế:
Vật đen là vật bức xạ lý tưởng, hấp thụ năng lượng bức xạ của mọi bước sóng mà không phản xạ hay truyền năng lượng, và độ phát xạ bề mặt của nó là 1. Cần chỉ ra rằng trong tự nhiên không có vật đen thực sự, nhưng để làm rõ và thu được quy luật phân bố bức xạ hồng ngoại, nghiên cứu lý thuyết phải lựa chọn mô hình thích hợp. Đây là mô hình dao động lượng tử hóa của bức xạ khoang cơ thể do Jintai Keyi đề xuất, do đó rút ra Định luật bức xạ vật đen của Jintai Keyi, tức là bức xạ quang phổ của vật đen biểu thị bằng bước sóng, là điểm khởi đầu của tất cả các lý thuyết về bức xạ hồng ngoại, vì vậy nó được gọi là định luật bức xạ vật đen.
Ảnh hưởng của độ phát xạ của vật thể nhiệt kế đến phép đo nhiệt độ bức xạ:
Hầu như tất cả các vật thể thực sự tồn tại trong tự nhiên đều không phải là vật thể đen. Lượng bức xạ của tất cả các vật thể thực tế không chỉ phụ thuộc vào bước sóng bức xạ và nhiệt độ của vật thể mà còn phụ thuộc vào các yếu tố như loại vật liệu, phương pháp chuẩn bị, quá trình nhiệt, trạng thái bề mặt và điều kiện môi trường của vật thể. Do đó, để định luật bức xạ vật đen áp dụng cho tất cả các vật thể thực, phải đưa ra một hệ số tỷ lệ liên quan đến tính chất vật liệu và trạng thái bề mặt, tức là độ phát xạ. Hệ số này biểu thị mức độ gần của bức xạ nhiệt của một vật thể thực tế với bức xạ vật đen và giá trị của nó nằm trong khoảng từ 0 đến giá trị nhỏ hơn 1. Theo định luật bức xạ, miễn là bạn biết độ phát xạ của vật liệu, bạn có thể biết đặc điểm bức xạ hồng ngoại của bất kỳ vật thể nào.
Các yếu tố chính ảnh hưởng đến độ phát xạ của nhiệt kế hồng ngoại là:
Loại vật liệu, độ nhám bề mặt, cấu trúc vật lý và hóa học và độ dày vật liệu, v.v.
Khi sử dụng nhiệt kế bức xạ hồng ngoại để đo nhiệt độ của mục tiêu, trước tiên phải đo lượng bức xạ hồng ngoại của mục tiêu trong phạm vi dải tần của nó, sau đó tính nhiệt độ của mục tiêu đo được bằng nhiệt kế. Nhiệt kế một màu tỷ lệ thuận với lượng bức xạ trong dải: nhiệt kế hai màu tỷ lệ thuận với tỷ lệ lượng bức xạ trong hai dải.
Nhiệt kế hồng ngoại phải chọn đúng hệ thống hồng ngoại:
Nhiệt kế hồng ngoại bao gồm hệ thống quang học, máy dò quang điện, bộ khuếch đại tín hiệu, xử lý tín hiệu, đầu ra màn hình và các bộ phận khác. Hệ thống quang học thu thập năng lượng bức xạ hồng ngoại mục tiêu trong trường nhìn của nó và kích thước của trường nhìn được xác định bởi các bộ phận quang học của nhiệt kế và vị trí của nó. Năng lượng hồng ngoại được tập trung vào bộ tách sóng quang và chuyển đổi thành tín hiệu điện tương ứng. Tín hiệu đi qua bộ khuếch đại và mạch xử lý tín hiệu và được chuyển đổi thành giá trị nhiệt độ của mục tiêu đo sau khi hiệu chỉnh theo thuật toán xử lý bên trong của thiết bị và độ phát xạ của mục tiêu.
