Đo nhiệt độ bức xạ ảnh hưởng bởi độ phát xạ của vật thể
Hầu như tất cả các vật thể thực sự tồn tại trong tự nhiên đều không phải là vật đen. Lượng bức xạ của tất cả các vật thể thực tế không chỉ phụ thuộc vào bước sóng bức xạ và nhiệt độ của vật thể mà còn phụ thuộc vào các yếu tố như loại vật liệu, phương pháp chuẩn bị, quá trình nhiệt, điều kiện bề mặt và điều kiện môi trường tạo nên vật thể đó. . Vì vậy, để định luật bức xạ vật đen áp dụng cho mọi vật thể thực tế cần đưa ra một hệ số tỷ lệ liên quan đến tính chất vật liệu và điều kiện bề mặt, cụ thể là độ phát xạ. Hệ số này biểu thị mức độ gần nhau giữa bức xạ nhiệt của một vật thể thực tế và bức xạ vật đen, với giá trị từ 0 đến các giá trị nhỏ hơn 1. Theo định luật bức xạ, miễn là biết được độ phát xạ của vật liệu thì các đặc tính của bức xạ hồng ngoại của bất kỳ đối tượng nào đều được biết.
Các yếu tố chính ảnh hưởng đến độ phát xạ là:
Loại vật liệu, độ nhám bề mặt, cấu trúc hóa lý và độ dày vật liệu, v.v.
Khi đo nhiệt độ của mục tiêu bằng nhiệt kế bức xạ hồng ngoại, bước đầu tiên là đo bức xạ hồng ngoại của mục tiêu trong phạm vi bước sóng của nó, sau đó nhiệt kế sẽ tính toán nhiệt độ của mục tiêu đo được. Nhiệt kế đơn sắc tỷ lệ thuận với bức xạ trong dải bước sóng, trong khi nhiệt kế hai màu tỷ lệ thuận với bức xạ giữa hai dải bước sóng.
Hệ thống hồng ngoại:
Nhiệt kế hồng ngoại bao gồm hệ thống quang học, bộ tách sóng quang, bộ khuếch đại tín hiệu, xử lý tín hiệu, đầu ra màn hình và các thành phần khác. Hệ thống quang học thu thập năng lượng bức xạ hồng ngoại của mục tiêu trong trường nhìn của nó và kích thước của trường nhìn được xác định bởi các thành phần quang học và vị trí của chúng trên nhiệt kế. Năng lượng hồng ngoại được tập trung vào bộ tách sóng quang và chuyển đổi thành tín hiệu điện tương ứng. Tín hiệu được khuếch đại và xử lý bằng mạch xử lý tín hiệu và được chuyển đổi thành giá trị nhiệt độ của mục tiêu đo được sau khi được hiệu chỉnh theo thuật toán trị liệu bên trong của thiết bị và độ phát xạ của mục tiêu.
