Các ngành công nghiệp có thể sử dụng máy đo độ dày lớp phủ

Jan 25, 2023

Để lại lời nhắn

Các ngành công nghiệp có thể sử dụng máy đo độ dày lớp phủ

 

Máy đo độ dày lớp sơn là sản phẩm mới ra đời, mang những ưu điểm vượt trội so với sản phẩm máy đo độ dày lớp sơn cũ như sau:

1. Tốc độ đo nhanh: gấp 6 lần so với các dòng TT khác;

 

2. Độ chính xác cao: Sau khi hiệu chuẩn nhanh, độ chính xác của sản phẩm có thể đạt 1-2 phần trăm . Mặt hàng này có khả năng đạt được xếp hạng A trên thị trường. So với các sản phẩm gia dụng tương tự như Times, độ chính xác của nó cao hơn đáng kể. Ngoài ra, nó có giá cao hơn hàng nhập khẩu như EPK;

 

3. Tính ổn định: Hàng hóa sản xuất trong nước có tính ổn định về công dụng và đo lường vượt trội so với hàng hóa nhập khẩu;

 

4. Chức năng, dữ liệu, hoạt động và hiển thị đều bằng tiếng Trung Quốc. Theo các tiêu chuẩn quốc gia và quốc tế có liên quan, lớp phủ được tạo ra để bảo vệ và tô điểm cho bề mặt vật liệu, chẳng hạn như sơn phủ, mạ, ốp, dán, tạo màng hóa học, v.v., được gọi là lớp phủ. Trong ngành công nghiệp chế biến và kỹ thuật bề mặt, đo độ dày lớp phủ đã trở thành một thành phần quan trọng trong kiểm tra chất lượng và là một yêu cầu đối với hàng hóa để đáp ứng các yêu cầu cao. Có tiêu chuẩn cụ thể về độ dày của tôn đối với hàng hóa xuất khẩu của nước ta và các dự án có liên quan đến nước ngoài nhằm quốc tế hóa sản phẩm.

 

Cắt nêm, mặt cắt quang học, điện phân, đo chênh lệch độ dày, cân, huỳnh quang tia X, tán xạ ngược tia, điện dung, đo từ trường và định luật đo dòng điện xoáy là một số phương pháp chính được sử dụng để xác định độ dày của lớp phủ. Năm kỹ thuật đầu tiên trong số này là thử nghiệm phá hủy; các kỹ thuật đo tốn nhiều công sức và chậm chạp, và phần lớn trong số chúng phù hợp để kiểm tra mẫu. Mặc dù thiết bị phức tạp và đắt tiền, và phạm vi đo bị hạn chế, các quy trình chụp X-quang và tia-quang là các phép đo không tiếp xúc và không phá hủy . Người sử dụng phải tuân theo luật bảo vệ bức xạ do nguồn phóng xạ. Phương pháp tia X có thể đo lớp phủ kép, lớp phủ hợp kim và lớp phủ cực mỏng. Phép đo lớp phủ và lớp phủ với chất nền có số hiệu nguyên tử lớn hơn 3 đều phù hợp với phương pháp tia-ray. Chỉ khi xác định độ dày của lớp phủ cách điện trên một dây dẫn mỏng thì phương pháp điện dung mới được sử dụng.

 

-6

 

Gửi yêu cầu