Ưu điểm của máy đo độ dày lớp phủ so với máy đo độ dày lớp phủ là gì?
Máy đo độ dày lớp phủ là một sản phẩm mới được phát triển. So với các máy đo độ dày lớp phủ trước đây, nó có những ưu điểm chính sau:
1. Tốc độ đo nhanh: Tốc độ đo nhanh hơn 6 lần so với các dòng TT khác;
2. Độ chính xác cao: Độ chính xác của sản phẩm có thể đạt tới 1-2% sau khi hiệu chỉnh đơn giản. Nó hiện là sản phẩm duy nhất trên thị trường có thể đạt đến Loại A. Độ chính xác của nó cao hơn nhiều so với các sản phẩm nội địa tương tự như Era. Nó cũng chính xác hơn các sản phẩm nhập khẩu như EPK;
3. Tính ổn định: Độ ổn định của giá trị đo và độ ổn định sử dụng tốt hơn sản phẩm nhập khẩu;
4. Các chức năng, dữ liệu, thao tác và hiển thị đều bằng tiếng Trung Quốc;
Lớp phủ được hình thành để bảo vệ và trang trí bề mặt của vật liệu, chẳng hạn như lớp phủ, mạ, lớp phủ, cán màng, màng tạo hình hóa học, v.v., được gọi là lớp phủ trong các tiêu chuẩn quốc gia và quốc tế liên quan. Đo độ dày lớp phủ đã trở thành một phần quan trọng trong việc kiểm tra chất lượng trong ngành công nghiệp chế biến và kỹ thuật bề mặt, đồng thời là phương tiện thiết yếu để sản phẩm đáp ứng các tiêu chuẩn chất lượng tuyệt vời. Để quốc tế hóa sản phẩm, các mặt hàng xuất khẩu của nước ta và các dự án liên quan đến nước ngoài đều có yêu cầu rõ ràng về độ dày lớp phủ.
Các phương pháp đo độ dày lớp phủ chính bao gồm: phương pháp cắt nêm, phương pháp chặn ánh sáng, phương pháp điện phân, phương pháp đo chênh lệch độ dày, phương pháp cân, phương pháp huỳnh quang tia X, phương pháp tán xạ ngược tia, phương pháp điện dung, phương pháp đo từ tính và đo dòng điện xoáy. v.v. Năm phương pháp đầu tiên trong số này là thử nghiệm phá hủy. Các phương pháp đo cồng kềnh và chậm, hầu hết phù hợp để kiểm tra lấy mẫu.
Phương pháp tia X và tia X là các phép đo không tiếp xúc và không phá hủy, nhưng các thiết bị này phức tạp và đắt tiền, phạm vi đo nhỏ. Do có nguồn phóng xạ nên người sử dụng phải tuân thủ các quy định về bảo vệ bức xạ. Phương pháp tia X có thể đo lớp phủ cực mỏng, lớp phủ kép và lớp phủ hợp kim. Phương pháp tia thích hợp để đo lớp phủ và lớp phủ có số nguyên tử nền lớn hơn 3. Phương pháp điện dung chỉ được sử dụng khi đo độ dày lớp phủ cách điện trên dây dẫn mỏng.
