Ưu điểm của máy đo độ dày lớp phủ so với máy đo độ dày lớp phủ là gì
Máy đo độ dày lớp phủ là sản phẩm mới được phát triển với những ưu điểm chính sau so với các máy đo độ dày lớp phủ trước đây:
1. Tốc độ đo nhanh: Tốc độ đo nhanh hơn 6 lần so với các dòng TT khác;
2. Độ chính xác cao: Sau khi hiệu chuẩn đơn giản, sản phẩm có thể đạt được độ chính xác 1-2%. Nó hiện là sản phẩm trên thị trường có thể đạt cấp độ A và độ chính xác của nó cao hơn nhiều so với các sản phẩm nội địa tương tự như Epoch. Nó cũng có độ chính xác cao hơn các sản phẩm nhập khẩu như EPK;
3. Tính ổn định: Độ ổn định và khả năng sử dụng của các giá trị đo được tốt hơn so với sản phẩm nhập khẩu;
4. Tất cả các chức năng, dữ liệu, hoạt động và hiển thị đều bằng tiếng Trung Quốc;
Lớp phủ được hình thành để bảo vệ bề mặt và trang trí các vật liệu, chẳng hạn như lớp phủ, lớp phủ, lớp phủ, lớp mặt, màng tạo ra bằng hóa học, v.v., được gọi là lớp phủ trong các tiêu chuẩn quốc gia và quốc tế liên quan. Việc đo độ dày lớp phủ đã trở thành một phần quan trọng trong việc kiểm tra chất lượng trong ngành công nghiệp chế biến và kỹ thuật bề mặt, đồng thời là phương tiện cần thiết để sản phẩm đáp ứng các tiêu chuẩn chất lượng vượt trội. Để quốc tế hóa sản phẩm, Trung Quốc đã đưa ra các yêu cầu rõ ràng về độ dày lớp phủ trong hàng hóa xuất khẩu và các dự án liên quan đến nước ngoài.
Các phương pháp đo độ dày lớp phủ chủ yếu bao gồm phương pháp cắt nêm, phương pháp cắt ánh sáng, phương pháp điện phân, phương pháp đo chênh lệch độ dày, phương pháp cân, phương pháp huỳnh quang tia X, phương pháp tán xạ ngược tia, phương pháp điện dung, phương pháp đo từ tính và phương pháp đo dòng điện xoáy. . Năm phương pháp đầu tiên trong số này là phát hiện tổn hao, với các phương pháp đo phức tạp và tốc độ chậm, hầu hết đều phù hợp để kiểm tra lấy mẫu.
Phương pháp tia X và tia beta là các phép đo không phá hủy không tiếp xúc, nhưng thiết bị phức tạp và đắt tiền, phạm vi đo nhỏ. Do có nguồn phóng xạ nên người sử dụng phải tuân thủ các quy định về bảo vệ bức xạ. Phương pháp tia X có thể đo lớp phủ cực mỏng, lớp phủ kép và lớp phủ hợp kim. Phương pháp tia beta phù hợp để đo lớp phủ và chất nền có số nguyên tử lớn hơn 3. Phương pháp điện dung chỉ được sử dụng để đo độ dày lớp cách điện của vật liệu dẫn điện mỏng.
