Phân biệt giữa bản đồ pha và chiều cao trong kính hiển vi lực nguyên tử
Phân biệt giữa bản đồ pha và chiều cao trong kính hiển vi lực nguyên tử
Tại thời điểm này, nó sẽ tương tác với nó, lực van der Waals hoặc hiệu ứng Casimir, v.v. để thể hiện các đặc điểm bề mặt của mẫu, để đạt được mục đích phát hiện, hiển thị và xử lý thành phần hệ thống, mục đích là làm cho không -Dẫn điện cũng có thể sử dụng phương pháp quan sát kính hiển vi đầu dò quét (SPM) tương tự.
Nó chủ yếu bao gồm một công cụ đúc siêu nhỏ có đầu kim, để thu được thông tin cấu trúc địa hình bề mặt và thông tin độ nhám bề mặt với độ phân giải nanomet. Kính hiển vi lực nguyên tử được phát minh bởi Gerd Binning thuộc Trung tâm nghiên cứu Zurich của IBM vào năm 1985. Nó có thể đo bề mặt của chất rắn, một công cụ phân tích có thể được sử dụng để nghiên cứu cấu trúc bề mặt của vật liệu rắn bao gồm cả chất cách điện. Phát hiện liên kết nguyên tử, giao thoa kế và các phương pháp quang học khác, AFM). Chuyển động của công cụ đúc hẫng có thể được đo bằng các phương pháp điện như phát hiện dòng điện trong đường hầm hoặc kính hiển vi lực nguyên tử làm lệch chùm tia (Kính hiển vi lực nguyên tử, các vòng phản hồi để theo dõi chuyển động của nó, thu thập hình ảnh do máy tính điều khiển và cũng có thể quan sát được các chất không dẫn điện).
